新加坡ACCULEX顯微鏡設備IMH

赫爾納供應新加坡ACCULEX顯微鏡設備IMH，德國總部直接采購，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗，原裝產(chǎn)品，支持選型，為您提供一對一的解決方案：貨期穩定，報價(jià)，價(jià)格優(yōu)，在中國設有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù)。

公司簡(jiǎn)介

ACCULEX Solutions Pte Ltd成立于1999年，總部位于新加坡，專(zhuān)注于工業(yè)檢測與精密測量設備的研發(fā)與生產(chǎn)。公司在新加坡及馬來(lái)西亞馬六甲設有研發(fā)中心，致力于為半導體、電子制造及精密加工領(lǐng)域提供高效測量解決方案，并通過(guò)ISO 9001:2015質(zhì)量管理體系認證。

產(chǎn)品類(lèi)型

ACCULEX主要產(chǎn)品涵蓋以下類(lèi)別：

1、光學(xué)檢測與計量設備

2、自動(dòng)測量與輪廓系統

3、自動(dòng)化集成設備

4、晶圓傳輸與檢測設備

5、顯微鏡及光學(xué)配件

主要型號

1、IMH Integrated Measuring Microscope

2、WLO x00 Automatic Wafer Lifter/Inspection Machine

3、PLU x00 Programmable Wafer Inspection Station

4、MCL x50 Wafer Transfer Machine

5、DZ2IRV-IRT Infrared Zoom Microscpe

產(chǎn)品介紹

一、IMH Integrated Measuring Microscope

1、功能：非接觸式高精度深度測量，集成于生產(chǎn)線(xiàn)使用。

2、技術(shù)參數：

3、測量精度：±0.5μm

4、放大倍率：50X~200X（可選配置）

5、光源：LED冷光源

6、工作原理：基于光學(xué)分割法，通過(guò)分劃板對準實(shí)現高度、深度及表面形貌測量，支持實(shí)時(shí)觀(guān)測。

二、WLO x00 Automatic Wafer Lifter

1、功能：晶圓自動(dòng)搬運與表面缺陷檢測。

2、技術(shù)參數：

3、兼容晶圓尺寸：6英寸至12英寸

4、定位精度：±10μm

5、工作溫度：10°C~40°C

優(yōu)勢特點(diǎn)

1、高精度測量：采用光學(xué)分割技術(shù)，滿(mǎn)足微米級檢測需求。

2、緊湊設計：模塊化結構便于集成至生產(chǎn)線(xiàn)設備。

3、多場(chǎng)景兼容：支持半導體、電子元件及精密加工領(lǐng)域應用。

4、操作簡(jiǎn)化：直觀(guān)界面降低操作門(mén)檻，提升檢測效率。

5、穩定性強：工業(yè)級部件設計，適應長(cháng)時(shí)間連續作業(yè)。

主要應用

1、半導體制造：晶圓厚度測量、表面缺陷檢測。

2、精密加工：微型零件臺階高度、孔徑尺寸檢測。

3、電子元件檢測：PCB焊點(diǎn)高度、封裝平整度分析。

4、科研實(shí)驗：材料表面形貌觀(guān)測與數據采集。

5、光學(xué)器件生產(chǎn)：透鏡曲率、鍍膜層厚度測量。

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